О книге: Инженерные основы измерений нанометровой точности: Учебное пособие; Издательский Дом Интеллект, 2012

2819 р.

Издатель: Интеллект групп
ISBN: 978-5-91559-119-5
Книги: Метрология, стандартизация и сертификация
ID:1728834

Рейтинг:

(0/5)

Описание Характеристики Сравнить цены (1) Отзывы (0)

О книге

Параметр	Значение
Издатель	Издательский Дом Интеллект
Год издания	2012
ISBN	978-5-91559-119-5
Размеры	14,90 см × 21,60 см × 2,20 см
Автор(ы)	Лич Ричард
Тематика	Аппаратные средства
Раздел	Информационные технологии
Количество страниц	400
Формат	149x216мм
Вес	0.52кг
Обложка	твердый переплёт
Кол-во страниц	400

Где купить (1)

Цена от 2819 р. до 2819 р. в 1 магазинах

Магазин	Цена	Наличие
book24 5/5 ООО «Новый Книжный Центр» ИНН: 7710422909	2819 р. 3539 р. -20% Минимальные сроки доставки. Кэшбэк до 6.1% ✔ Промокоды на скидку	✔ 23.06.2025

Avito 5/5 ООО КЕХ еКоммерц ИНН: 7710668349	Avito доставка позволит получить любой товар, не выходя из дома

История цены
Магазин	Последняя известная цена	Обновлено
Лабиринт	3034 р.	21.11.2024
Буквоед	1799 р.	09.09.2023
Яндекс.Маркет	4059 р.	20.06.2024
МАЙШОП	1841 р.	23.06.2024
Читай-город	3149 р.	14.11.2024

Предложения банков

Компания	Предложение
Халва ПАО "СОВКОМБАНК" ИНН: 4401116480	Рассрочка 0% до 36 мес. Лимит кредитования - до 500 000 рублей. Снятие заемных средств в рассрочку на 3 мес. Кэшбэк до 10%
РОСБАНК	Cashback: - от 2 до 10% — на 2 выбранные категории - 1% — на остальные покупки в зависимости от общей суммы с начала месяца

Описание

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Инженерные основы измерений нанометровой точности: Учебное пособие - фото №1

Инженерные основы измерений нанометровой точности: Учебное пособие - фото №2

Инженерные основы измерений нанометровой точности: Учебное пособие - фото №3

Смотри также о книге.