О книге: Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении; ТЕХНОСФЕРА, 2018

от 1409 р. до 1569 р.

Где купить

О книге


ПараметрЗначение
ИздательТЕХНОСФЕРА
Год издания2018
Возрастные ограничения12
Автор(ы)
Кол-во страниц648
СерияМир физики и техники
ISBN978-5-94-836385-1
Размеры17,50 см × 24,70 см × 3,40 см
ТематикаФизика
Обложкатвердый переплёт
Жанрфизика
Оформление обложкилакировка
Вес0.65кг
Формат175x247мм
Количество страниц560
ИздательствоТехносфера
Количество книг1
Возрастное ограничение16+
Тип обложкитвердая
РазделФизические науки


Где купить (2)

Цена от 1409 р. до 1569 р. в 2 магазинах

МагазинЦенаНаличие
1409 р.
1769 р. -20% Минимальные сроки доставки. Кэшбэк до 6.1%
Промокоды на скидку

17.06.2025
1569 р.
Минимальная сумма заказа 100 рублей Крупнейшая сеть книжных магазинов Кэшбэк до 6.1%
Промокоды на скидку

17.06.2025
Avito доставка позволит получить любой товар, не выходя из дома

История цены

МагазинПоследняя известная ценаОбновлено
Лабиринт
1393 р.
21.11.2024
Читай-город
1569 р.
10.11.2024
Яндекс.Маркет
1933 р.
17.06.2024
МАЙШОП
845 р.
23.06.2024
Мегамаркет
1933 р.
14.09.2024

Предложения банков


Компания Предложение
Халва

Рассрочка 0% до 36 мес. Лимит кредитования - до 500 000 рублей. Снятие заемных средств в рассрочку на 3 мес. Кэшбэк до 10%

РОСБАНК

Cashback: - от 2 до 10% — на 2 выбранные категории - 1% — на остальные покупки в зависимости от общей суммы с начала месяца

Описание

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ.

Перевод на русский язык второго оригинального издания книги «Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении» является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области.

Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении - фото №1

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении - фото №2

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении - фото №3

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении - фото №4

Смотри также о книге.

Отзывы (0)




Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Физические науки. Астрономия - издательство "Техносфера"

Книги: Физические науки. Астрономия

Категория 1127 р. - 1690 р.

закладки (0) сравнение (0)

10 ms