О книге: Организация и технология испытаний. Учебное пособие; Лань, 2018

741 р.

  • Издатель: Лань
  • ISBN: 9785811430284
  • Книги: Метрология, стандартизация и сертификация
  • ID:2551611
Где купить

О книге


ПараметрЗначение
ПереплетТвердый переплёт
Год издания2018
Возрастные ограничения12
Кол-во страниц220
СерияУчебники для вузов. Специальная литература
Автор(ы)
ИздательЛань
Страниц220
Переплёттвердый
ISBN978-5-507-44378-9,978-5-8114-3028-4
Размеры17,30 см × 24,10 см × 1,30 см
Формат173x241мм
ТематикаМетрология
Тираж100
РазделОбщетехнические дисциплины
Количество страниц220
Вес0.42кг


Где купить (1)

Цена от 741 р. до 741 р. в 1 магазинах

МагазинЦенаНаличие
741 р.
Электронная книга Кэшбэк до 6.7%

23.09.2025
Avito доставка позволит получить любой товар, не выходя из дома

История цены

МагазинПоследняя известная ценаОбновлено
Лабиринт
3408 р.
21.11.2024
book24
2688 р.
23.10.2023
Яндекс.Маркет
1629 р.
27.06.2024
OZON
1676 р.
24.06.2024

Описание

Изложены краткие теоретические сведения об организации и технологии проведения испытаний. Рассмотрены вопросы теоретических основ организации испытаний, классификация испытаний и контроля, характеристика некоторых испытаний, оборудование и приборы, которые применяются в испытаниях, формирование результатов испытаний и их обработка, а также правила оформления результатов испытаний.

Учебное пособие предназначено для подготовки выпускников по направлениям "Стандартизация и метрология" и "Управление качеством" и изучения теоретического материала по дисциплине "Организация и технология испытаний".

Организация и технология испытаний. Учебное пособие - фото №1

Организация и технология испытаний. Учебное пособие - фото №2

Организация и технология испытаний. Учебное пособие - фото №3

Смотри также о книге.

Отзывы (0)




Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Метрология, стандартизация и сертификация - издательство "Лань"

Категория 592 р. - 889 р.

Книги: Метрология, стандартизация и сертификация

Категория 592 р. - 889 р.

закладки (0) сравнение (0)

11 ms