- Радиоэлектроника. Связь
- Горная промышленность. Металлургия
- Энергетика
- Машиностроение. Приборостроение
- Автоматика. Вычислительная техника
- Транспорт
- Легкая промышленность
- Пищевая промышленность
- Полиграфия
- Строительство. Коммунальное хозяйство
- Электротехника. Электроника
- Робототехника и контроллеры
- Ремонт бытовых приборов
О книге: Наукометрия в области патентной деятельности; Спутник+, 2017
139 р.
- Издатель: Спутник+
- ISBN: 9785997342630
- Книги: Метрология, стандартизация и сертификация
- ID:2657127
О книге
Параметр | Значение |
---|---|
Переплет | Мягкий переплёт |
Издатель | Спутник+ |
Год издания | 2017 |
Возрастные ограничения | 12 |
Кол-во страниц | 60 |
Автор(ы) | Марьясина Татьяна Давидовна |
Страниц | 60 |
Переплёт | мягкий |
ISBN | 978-5-9973-4263-0 |
Размеры | 60x90/8 |
Формат | 206x294мм |
Тематика | Наука. Науковедение |
Тираж | 300 |
Обложка | мягкая обложка |
Язык издания | rus |
Раздел | Современное естествознание |
Количество страниц | 60 |
Вес | 0.16кг |
Где купить (1)
Цена от 139 р. до 139 р. в 1 магазинах
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
Магазин | Последняя известная цена | Обновлено |
---|---|---|
Лабиринт | 121 р. | 21.11.2024 |
book24 | 159 р. | 05.09.2024 |
Читай-город | 159 р. | 04.09.2024 |
Яндекс.Маркет | 299 р. | 17.06.2024 |
МАЙШОП | 59 р. | 23.06.2024 |
Описание
Данная работа посвящена использованию наукометрии в области патентной деятельности. Во введении анализируется структура патентного документа. Раздел 1 посвящен патентным индикаторам. Описаны индикаторы для публикаций и патентного анализа. Рассмотрено использование патентных индикаторов в исследовании патентной эффективности и технологии взаимодействия университетов, промышленности, правительства и индивидуальных лиц. Анализируется, действительно ли существующие патентные индикаторы дают исчерпывающую картину изобретений, формирующих технологические траектории. В разделе 2 рассматриваются динамические патентные карты, основанные на структурах. В разделе 3 дается полуавтоматический итерационный метод для поиска вблизи патента на основе семантических сходств. В разделе 4 описано использование сети всеобъемлющего патентного цитирования для оценки стоимости патента. В разделе 5 рассматриваются препятствия для поиска известного уровня техники с трехсторонними офисами патента. В разделе 6 анализируются распределения цитат статья-статья и статья-патент и оценка взаимосвязи между ними. Раздел 7 посвящен отсроченному цитированию статьи патентом. Раздел 8 посвящен определению SCI охватываемых публикаций в NPR в патентах на использование США. В разделе 9 рассматривается влияние информации патентного семейства в анализе сети цитирования патента. Раздел 10 посвящен интеллектуальному анализу данных технологической важности патентов, финансируемых правительством, в частном секторе. В разделе 11 представлен гибридный метод поиска классификации по ключевому слову. Раздел 12 рассматривает триадические цитаты, смещения страны и стоимость патента для случая фармацевтики. Раздел 13 посвящен измерению текстового патентного сходства на основе комбинированных понятий.
Смотри также о книге.
Отзывы (0)
Добавить отзыв
Книги: Метрология, стандартизация и сертификация - издательство "Спутник+"
Книги: Метрология, стандартизация и сертификация
Категория 111 р. - 166 р.