Основы метрологии, стандартизации и сертификации; Инфра-М, 2023

  • Издатель: ИНФРА-М
  • ISBN: 978-5-16-017829-5
  • EAN: 9785160178295

  • Книги: Общетехнические дисциплины
  • ID:12929198
Где купить

Где купить

Последняя известная цена от 784 р. до 1441 р. в 6 магазинах

В данный момент у нас нет информации о наличии данного товара в магазинах.
Вы можете поискать его на других площадках:

МагазинЦенаНаличие
Avito доставка позволит получить любой товар, не выходя из дома

История цены

МагазинПоследняя известная ценаОбновлено
book24
1441 р.
30.01.2024
Буквоед
1441 р.
30.01.2024
Лабиринт
1201 р.
15.05.2024
Читай-город
1441 р.
29.01.2024
Яндекс.Маркет
952 р.
27.06.2024
МАЙШОП
784 р.
14.05.2024

Описание

В учебном пособии рассмотрены основы метрологии, сертификации как формы подтверждения соответствия и стандартизации в Российской Федерации в соответствии с федеральными законами "О техническом регулировании" и "Об обеспечении единства измерений".

Соответствует требованиям федеральных государственных образовательных стандартов высшего образования последнего поколения.

Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки 27.03.01 "Стандартизация и метрология", 27.03.02 "Управление качеством".

2-е издание, исправленное и дополненное.

Основы метрологии, стандартизации и сертификации - фото №1

Основы метрологии, стандартизации и сертификации - фото №2

Смотри также о книге.

О книге


ПараметрЗначение
Автор(ы)
ПереплетТвердый переплёт
ИздательИнфра-М
Год издания2023
Возрастные ограничения12
Кол-во страниц140
СерияВысшее образование
Страниц140
Переплёттвердый
ISBN978-5-16-017829-5
Размеры14,50 см × 21,70 см × 1,40 см
Формат145x217мм
ТематикаМетрология
Тираж500
РазделОбщетехнические дисциплины
Количество страниц140
Вес0.27кг
Обложкатвердый переплёт


Отзывы (0)


Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Метрология, стандартизация и сертификация - издательство "ИНФРА-М"

Книги: Метрология, стандартизация и сертификация

Категория 627 р. - 940 р.

закладки (0) сравнение (0)

11 ms