Средства диагностики обтекателей ракет из неметаллических материалов при стендовых тепловых испытаниях; МГТУ им. Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет), 2016

180 р.

Где купить

Где купить (1)

Цена от 180 р. до 180 р. в 1 магазинах

МагазинЦенаНаличие
180 р.
Электронная книга Кэшбэк до 6.5%
Промокоды на скидку

25.07.2025
Яндекс.Маркет
5/5
Промокоды на скидку
Avito доставка позволит получить любой товар, не выходя из дома

Описание

Рассмотрены основные методы и средства тепловой диагностики при стендовых испытаниях. Изложены особенности тепловых испытаний образцов материалов, даны рекомендации по их проведению. Приведены примеры расчетно-теоретических исследований по определению температурного состояния и методической погрешности измерения температуры для характерных условий испытаний образцов из конструкционной керамики и ситаллов. Дано описание экспериментального оборудования. Приведен пример экспериментальных исследований по определению плотности падающего теплового потока и температуры фронтальной поверхности образца из конструкционной керамики, результаты эксперимента сопоставлены с расчетно-теоретическими результатами. Для студентов, обучающихся по специальности 24.05.01 «Проектирование, производство и эксплуатация ракет и ракетно-космических комплексов» и направлению подготовки магистров 24.04.01 «Ракетные комплексы и космонавтика», изучающих дисциплины «Испытания композитных материалов и конструкций», «Теплофизические процессы в композитных конструкциях», «Оптимизация композитных конструкций и технологий».

Смотри также о книге.

О книге


ПараметрЗначение
ISBN978-5-7038-4312-3
Автор(ы)
Год издания2016
ИздательМГТУ им. Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)
Форматы электронной версииPDF


Отзывы (0)


Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Технические науки - издательство "МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет)"

Категория 144 р. - 216 р.

Книги: Технические науки

Категория 144 р. - 216 р.

закладки (0) сравнение (0)

11 ms