Основы фототермической радиометрии и лазерной термографии; Техносфера, 2017

от 649 р. до 1115 р.

  • Издатель: Техносфера
  • ISBN: 9785948364933
  • EAN: 9785948364933

  • Книги: Физическая химия. Химическая физика
  • ID:1823704
Где купить

Где купить (4)

Цена от 649 р. до 1115 р. в 4 магазинах

МагазинЦенаНаличие
1115 р.
1356 р. -18% Минимальные сроки доставки. Кэшбэк до 6.1%
Промокоды на скидку

20.07.2025
649 р.
Электронная книга Кэшбэк до 6.5%

18.07.2025
1115 р.
1356 р. -18% Крупнейшая сеть книжных магазинов Кэшбэк до 6.1%
Промокоды на скидку

20.07.2025
1115 р.
1356 р. -18% Кэшбэк до 6.1%
Промокоды на скидку

20.07.2025
Avito доставка позволит получить любой товар, не выходя из дома

История цены

МагазинПоследняя известная ценаОбновлено
Лабиринт
986 р.
21.11.2024
Яндекс.Маркет
1386 р.
17.06.2024
МАЙШОП
598 р.
23.06.2024
Мегамаркет
1405 р.
03.09.2024
OZON
918 р.
24.06.2024

Описание

В книге содержится последовательное изложение принципов фототермической радиометрии/спектроскопии и лазерной термографии - перспективного направления в спектроскопии и тепловидении. В основе нового метода исследований лежит радиометрическая регистрация поглощенной энергии в исследуемых средах при воздействии на них лазерного излучения. Подробно излагается современное состояние и перспективы развития нового направления, его преимущества и границы применимости по сравнению с другими фототермическими методами. Рассмотрены теоретические основы метода модуляционной и импульсной фототермической радиометрии, ее различные модификации, включая резонансную и "pump-probe" фототермическую радиометрию и термографию. Приводятся многочисленные примеры практической реализации фототермической радиометрии и лазерной термографии в различных областях науки и техники, в частности для дистанционного измерения температуры объектов, исследования слабопоглощающих сред, дистанционного обнаружения и идентификации следовых количеств вещества, неразрушающего контроля материалов и покрытий, измерения их теплофизических параметров. Обсуждаются вопросы, связанные с особенностями применения метода для контроля качества полупроводниковых материалов, например, в части обнаружения подповерхностных дефектов и примесей, измерения их концентрации и энергии активации. Особое внимание в книге уделяется возможностям метода применительно к таким практически значимым областям, как медицина и биология.

Книга рассчитана на широкий круг специалистов, работающих в области спектроскопии, лазерной физики, химии, биологии, а также может быть полезна преподавателям, аспирантам и студентам старших курсов соответствующих специальностей.

Основы фототермической радиометрии и лазерной термографии - фото №1

Основы фототермической радиометрии и лазерной термографии - фото №2

Основы фототермической радиометрии и лазерной термографии - фото №3

Смотри также о книге.

О книге


ПараметрЗначение
ПереплетТвёрдый переплёт
ИздательТехносфера
Год издания2017
Возрастные ограничения12
Кол-во страниц220
СерияМир фотоники
Автор(ы)
Страниц220
Переплёттвердый
ISBN978-5-94-836493-3,978-5-94836-493-3
Размеры17,50 см × 24,50 см × 1,50 см
Формат175x245мм
ТематикаОбщая и неорганическая химия
Тираж150
Обложкатвердый переплёт
Количество книг1
Оформление обложкилакировка
Вес0.48кг
Тип обложкитвердая
ИздательствоТехносфера
Жанрхимия
Возрастное ограничение16+
Количество страниц220
АвторСкворцов Леонид Александрович
РазделХимические науки


Отзывы (0)


Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Химические науки - издательство "Техносфера"

Категория 519 р. - 778 р.

Книги: Химические науки

Категория 519 р. - 778 р.

закладки (0) сравнение (0)

15 ms