Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces; John Wiley & Sons Limited

13212 р.

  • Издатель: John Wiley & Sons Limited
  • ISBN: 9783527615940
  • Книги: Техническая литература
  • ID:6516460
Где купить

Где купить (1)

Цена от 13212 р. до 13212 р. в 1 магазинах

МагазинЦенаНаличие
13212 р.
13250 р. -0% Электронная книга Кэшбэк до 6.5%
Промокоды на скидку

24.07.2025
Яндекс.Маркет
5/5
Промокоды на скидку
Avito доставка позволит получить любой товар, не выходя из дома

Предложения банков


Компания Предложение

Описание

Derived from the highly acclaimed series Materials Science and Technology, this book provides in-depth coverage of STM, AFM, and related non-contact nanoscale probes along with detailed applications, such as the manipulation of atoms and clusters on a nanometer scale. The methods are described in terms of the physics and the technology of the methods and many high-quality images demonstrate the power of these techniques in the investigation of surfaces and the processes which occur on them. Topics include: Semiconductor Surfaces and Interfaces * Insulators * Layered Compounds * Charge Density Wave Systems * Superconductors * Electrochemisty at Liquid-Solid Interfaces * Biological Systems * Metrological Applications * Nanoscale Surface Forces * Nanotribology * Manipulation on the Nanoscale Materials scientists, surface scientists, electrochemists, as well as scientists working in catalysis and microelectronics will find this book an invaluable source of information

Смотри также о книге.

О книге


ПараметрЗначение
Автор(ы)
ИздательJohn Wiley & Sons Limited
ISBN9783527615940
Форматы электронной версииPDF


Отзывы (0)


Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Технические науки - издательство "John Wiley & Sons Limited"

Категория 10569 р. - 15854 р.

Книги: Технические науки

Категория 10569 р. - 15854 р.

закладки (0) сравнение (0)

77 ms