Организация и технология испытаний. СПО; Издательство ЛАНЬ, 2021

683 р.

  • Издатель: Лань
  • ISBN: 978-5-8114-6971-0
  • EAN: 9785811469710

  • Книги: Метрология, стандартизация и сертификация
  • ID:7589176
Где купить

Где купить (1)

Цена от 683 р. до 683 р. в 1 магазинах

МагазинЦенаНаличие
683 р.
Электронная книга Кэшбэк до 6.9%

09.08.2025

История цены

МагазинПоследняя известная ценаОбновлено
Лабиринт
1945 р.
21.11.2024
Яндекс.Маркет
2445 р.
27.06.2024
МАЙШОП
1180 р.
23.06.2024
OZON
1007 р.
24.06.2024

Описание

Изложены краткие теоретические сведения об организации и технологии проведения испытаний. Рассмотрены вопросы теоретических основ организации испытаний, классификация испытаний и контроля, характеристика некоторых испытаний, оборудование и приборы, которые применяются в испытаниях, формирование результатов испытаний и их обработка, а также правила оформления результатов испытаний.

Учебное пособие предназначено для учащихся среднетехнических учебных заведений, обучающихся по специальностям «Техническое регулирование и управление качеством» и «Управление качеством продукции, процессов и услуг (по отраслям)».

Организация и технология испытаний. СПО - фото №1

Организация и технология испытаний. СПО - фото №2

Организация и технология испытаний. СПО - фото №3

Организация и технология испытаний. СПО - фото №4

Организация и технология испытаний. СПО - фото №5

Организация и технология испытаний. СПО - фото №6

Организация и технология испытаний. СПО - фото №7

Смотри также о книге.

О книге


ПараметрЗначение
Автор(ы)
ИздательИздательство ЛАНЬ
СерияМетрология.Стандартизация.Сертификация
Год издания2021
ISBN978-5-8114-6971-0
Размеры70x100 1/16
Обложкатвердый переплёт
Язык изданияrus
Кол-во страниц220
Форматы электронной версииPDF


Отзывы (0)


Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Метрология, стандартизация и сертификация - издательство "Лань"

Категория 546 р. - 819 р.

Книги: Метрология, стандартизация и сертификация

Категория 546 р. - 819 р.

закладки (0) сравнение (0)

22 ms