О книге: Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении; Техносфера, 2018

1499 р.

Где купить


О книге


ПараметрЗначение
ИздательТехносфера
Год издания2018
Возрастные ограничения12
Автор(ы)
Кол-во страниц648
СерияМир физики и техники
ISBN978-5-94-836385-1,978-5-94836-385-1
Размеры17,50 см × 24,70 см × 3,40 см
ТематикаФизика
Обложкатвердый переплёт
Жанрфизика
Оформление обложкилакировка
Вес0.65кг
Формат175x247мм
Количество страниц560
ИздательствоТехносфера
Количество книг1
Возрастное ограничение16+
Тип обложкитвердая
РазделФизические науки


Где купить (2)

Цена от 1499 р. до 1499 р. в 2 магазинах

МагазинЦенаНаличие
1499 р.
1769 р. -15% Крупнейшая сеть книжных магазинов Кэшбэк до 6.1%
Промокоды на скидку

16.03.2026
1499 р.
1769 р. -15% Кэшбэк до 6.1%
Промокоды на скидку

16.03.2026
Яндекс.Маркет
5/5
1933 р.
Кэшбэк до 3.8%
Промокоды на скидку

Наличие уточняйте
17.06.2024
Яндекс.Маркет
5/5
Промокоды на скидку

История цены

МагазинПоследняя известная ценаОбновлено
book24
1454 р.
16.09.2025
Лабиринт
1393 р.
21.11.2024
МАЙШОП
845 р.
23.06.2024
Мегамаркет
1933 р.
14.09.2024

Описание

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ.

Перевод на русский язык второго оригинального издания книги «Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении» является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области.

Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении - фото №1

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении - фото №2

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении - фото №3

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении - фото №4

Смотри также о книге.

Отзывы (0)




Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Физические науки. Астрономия - издательство "Техносфера"

Книги: Физические науки. Астрономия

Категория 1199 р. - 1798 р.

закладки (0) сравнение (0)

33 ms