О книге: Наукометрия в области патентной деятельности; Спутник+, 2017

  • Издатель: Спутник+
  • ISBN: 9785997342630
  • Книги: Метрология, стандартизация и сертификация
  • ID:2657127
Где купить

О книге


ПараметрЗначение
ПереплетМягкий переплёт
ИздательСпутник+
Год издания2017
Возрастные ограничения12
Кол-во страниц60
Автор(ы)
Страниц60
Переплётмягкий
ISBN978-5-9973-4263-0
Размеры60x90/8
Формат206x294мм
ТематикаНаука. Науковедение
Тираж300
Обложкамягкая обложка
Язык изданияrus
РазделСовременное естествознание
Количество страниц60
Вес0.16кг


Где купить

Последняя известная цена от 59 р. до 299 р. в 6 магазинах

В данный момент у нас нет информации о наличии данного товара в магазинах.
Вы можете поискать его на других площадках:

МагазинЦенаНаличие
Avito доставка позволит получить любой товар, не выходя из дома

История цены

МагазинПоследняя известная ценаОбновлено
Лабиринт
121 р.
21.11.2024
book24
159 р.
05.09.2024
Яндекс.Маркет
299 р.
17.06.2024
МАЙШОП
59 р.
23.06.2024

Описание

Данная работа посвящена использованию наукометрии в области патентной деятельности. Во введении анализируется структура патентного документа. Раздел 1 посвящен патентным индикаторам. Описаны индикаторы для публикаций и патентного анализа. Рассмотрено использование патентных индикаторов в исследовании патентной эффективности и технологии взаимодействия университетов, промышленности, правительства и индивидуальных лиц. Анализируется, действительно ли существующие патентные индикаторы дают исчерпывающую картину изобретений, формирующих технологические траектории. В разделе 2 рассматриваются динамические патентные карты, основанные на структурах. В разделе 3 дается полуавтоматический итерационный метод для поиска вблизи патента на основе семантических сходств. В разделе 4 описано использование сети всеобъемлющего патентного цитирования для оценки стоимости патента. В разделе 5 рассматриваются препятствия для поиска известного уровня техники с трехсторонними офисами патента. В разделе 6 анализируются распределения цитат статья-статья и статья-патент и оценка взаимосвязи между ними. Раздел 7 посвящен отсроченному цитированию статьи патентом. Раздел 8 посвящен определению SCI охватываемых публикаций в NPR в патентах на использование США. В разделе 9 рассматривается влияние информации патентного семейства в анализе сети цитирования патента. Раздел 10 посвящен интеллектуальному анализу данных технологической важности патентов, финансируемых правительством, в частном секторе. В разделе 11 представлен гибридный метод поиска классификации по ключевому слову. Раздел 12 рассматривает триадические цитаты, смещения страны и стоимость патента для случая фармацевтики. Раздел 13 посвящен измерению текстового патентного сходства на основе комбинированных понятий.

Наукометрия в области патентной деятельности - фото №1

Наукометрия в области патентной деятельности - фото №2

Смотри также о книге.

Отзывы (0)




Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Метрология, стандартизация и сертификация - издательство "Спутник+"

закладки (0) сравнение (0)

12 ms