Total-Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods; John Wiley & Sons Limited

11892 р.

  • Издатель: John Wiley & Sons Limited
  • ISBN: 9781118985878
  • Книги: Прочая образовательная литература
  • ID:5984124
Где купить


Где купить (1)

Цена от 11892 р. до 11892 р. в 1 магазинах

МагазинЦенаНаличие
11892 р.
11919 р. -0% Электронная книга Кэшбэк до 6.7%

23.05.2026
Яндекс.Маркет
5/5
Промокоды на скидку

Описание

Explores the uses of TXRF in micro- and trace analysis, and in surface- and near-surface-layer analysis • Pinpoints new applications of TRXF in different fields of biology, biomonitoring, material and life sciences, medicine, toxicology, forensics, art history, and archaeometry • Updated and detailed sections on sample preparation taking into account nano- and picoliter techniques • Offers helpful tips on performing analyses, including sample preparations, and spectra recording and interpretation • Includes some 700 references for further study

Смотри также о книге.

О книге


ПараметрЗначение
Автор(ы)
ИздательJohn Wiley & Sons Limited
ISBN9781118985878
Форматы электронной версииPDF


Отзывы (0)


Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Похожие товары

закладки (0) сравнение (0)

7 ms