- Культура. Искусство
- Психология
- Домашние ремесла. Рукоделие
- Растениеводство
- Коллекционирование
- Публицистика
- Эзотерика. Парапсихология
- Медицина и здоровье
- История. Исторические науки
- Филологические науки
- Развлечения. Праздники
- Экономика. Бизнес
- Технические науки
- Книги для родителей
- Кулинария
- Охота. Рыбалка. Собирательство
- Секс. Камасутра
- Туризм. Путеводители. Транспорт
- Философские науки. Социология
- Уход за животными
- Ремонт. Строительство. Интерьер
- Информационные технологии
- Фитнес. Спорт. Самооборона
- Красота. Этикет
- Государство и право. Юриспруденция
Statistical Analysis Techniques in Particle Physics. Fits, Density Estimation and Supervised Learning; John Wiley & Sons Limited
12592 р.
- Издатель: John Wiley & Sons Limited
- ISBN: 9783527677313
- Книги: Прочая образовательная литература
- ID:6001456
Где купить (1)
Цена от 12592 р. до 12592 р. в 1 магазинах
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
Предложения банков
Компания | Предложение |
---|
Описание
Modern analysis of HEP data needs advanced statistical tools to separate signal from background. This is the first book which focuses on machine learning techniques. It will be of interest to almost every high energy physicist, and, due to its coverage, suitable for students.
Смотри также о книге.
О книге
Параметр | Значение |
---|---|
Автор(ы) | Ilya Narsky |
Издатель | John Wiley & Sons Limited |
ISBN | 9783527677313 |
Форматы электронной версии |
Отзывы (0)
Добавить отзыв
Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!
Книги: Естественные науки - издательство "John Wiley & Sons Limited"
Категория 10073 р. - 15110 р.
Medical Mycology
10101 р.
Astrobiology
10101 р.
The Practice of Engineering Dynamics
10101 р.
Epilepsy
10106 р.
Digital Signal Processing for RFID
10203 р.
Complete Course in Astrobiology
10203 р.