- Культура. Искусство
- Психология
- Домашние ремесла. Рукоделие
- Растениеводство
- Коллекционирование
- Публицистика
- Эзотерика. Парапсихология
- Медицина и здоровье
- История. Исторические науки
- Филологические науки
- Развлечения. Праздники
- Экономика. Бизнес
- Книги для родителей
- Кулинария
- Охота. Рыбалка. Собирательство
- Секс. Камасутра
- Туризм. Путеводители. Транспорт
- Философские науки. Социология
- Уход за животными
- Ремонт. Строительство. Интерьер
- Естественные науки
- Информационные технологии
- Фитнес. Спорт. Самооборона
- Красота. Этикет
- Государство и право. Юриспруденция
Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices; John Wiley & Sons Limited
14627 р.
- Издатель: John Wiley & Sons Limited
- ISBN: 9781118717981
- Книги: Техническая литература
- ID:6003506
Где купить (1)
Цена от 14627 р. до 14627 р. в 1 магазинах
| Магазин | Цена | Наличие |
|---|---|---|
Предложения банков
| Компания | Предложение |
|---|
Описание
A fully comprehensive examination of state-of-the-art technologies for measurement at the small scale - Highlights the advanced research work from industry and academia in micro-nano devices test technology - Written at both introductory and advanced levels, provides the fundamentals and theories - Focuses on the measurement techniques for characterizing MEMS/NEMS devices
Смотри также о книге.
О книге
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Автор(ы) | Jingdong Chen |
| Издатель | John Wiley & Sons Limited |
| ISBN | 9781118717981 |
| Форматы электронной версии |
Отзывы (0)
Добавить отзыв
Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!
Книги: Технические науки - издательство "John Wiley & Sons Limited"
Категория 11701 р. - 17552 р.
Книги: Технические науки
Категория 11701 р. - 17552 р.