Two-Dimensional X-Ray Diffraction; John Wiley & Sons Limited

13672 р.

  • Издатель: John Wiley & Sons Limited
  • ISBN: 9780470502624
  • Книги: Прочая образовательная литература
  • ID:6514317
Где купить


Где купить (1)

Цена от 13672 р. до 13672 р. в 1 магазинах

МагазинЦенаНаличие
13672 р.
Электронная книга Кэшбэк до 6.7%

25.05.2026
Яндекс.Маркет
5/5
Промокоды на скидку

Описание

Written by one of the pioneers of 2D X-Ray Diffraction, this useful guide covers the fundamentals, experimental methods and applications of two-dimensional x-ray diffraction, including geometry convention, x-ray source and optics, two-dimensional detectors, diffraction data interpretation, and configurations for various applications, such as phase identification, texture, stress, microstructure analysis, crystallinity, thin film analysis and combinatorial screening. Experimental examples in materials research, pharmaceuticals, and forensics are also given. This presents a key resource to researchers in materials science, chemistry, physics, and pharmaceuticals, as well as graduate-level students in these areas.

Смотри также о книге.

О книге


ПараметрЗначение
Автор(ы)
ИздательJohn Wiley & Sons Limited
ISBN9780470502624
Форматы электронной версииPDF


Отзывы (0)


Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Похожие товары

закладки (0) сравнение (0)

8 ms