- Автомобильная электроника
- Техника для дома
- Техника для кухни
- Телефоны и связь
- Телевизоры, аудио, видео
- Красота и здоровье
- Компьютеры, ноутбуки, планшеты
- Фото- и видеотехника
- Встраиваемая техника
- Детские товары
- Для дома, дачи и ремонта
- Товары для дома
- Мебель
- Товары для спорта и отдыха
- Женщинам
- Мужчинам
- Детям
- Автотовары
- Инструменты, сантехника, все для сада
- Зоомагазин
- Строительство и ремонт
- Аптека
- Супермаркет
- Товары для творчества
Сравнить цены на книгу: Рассеяние упругих волн на модельных отражателях. Применение в задачах ультразвуковой дефектоскопии; МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2025
1799 р.
- Издатель: МГТУ им. Н.Э. Баумана
- ISBN: 978-5-7038-6444-9
- Книги: Физические науки
- ID:15331753
Где купить (2)
Цена от 1799 р. до 1799 р. в 2 магазинах
| Магазин | Цена | Наличие |
|---|---|---|
| Магазин | Последняя известная цена | Обновлено |
|---|---|---|
| book24 | 1799 р. | 08.04.2026 |
Описание
Дан обзор искусственных отражателей, используемых в соответствии со стандартами для настройки параметров ультразвукового контроля материалов и сварных швов. Обобщены некоторые теоретические результаты, связанные с дифракционными эффектами, возникающими при рассеянии упругих волн на дефектах. Приведены аналитические решения 3D-задачи рассеяния продольных и поперечных волн на острие трещины в виде полуплоскости и указаны оптимальные направления озвучивания. Изложено решение 3D-задачи рассеяния на объемных дефектах — цилиндрических и сферических полостях. Даны рекомендации по применению моделей трещин, пазов, бокового и вертикального сверления при контроле классическим эхометодом и современными дифракционными методами ультразвуковой дефектоскопии. Указаны некоторые направления совершенствования моделирования дефектов с целью повышения точности идентификации реальных дефектов по результатам ручного, автоматизированного и автоматического ультразвукового контроля материалов и сварных швов.
Для научных работников, инженеров, аспирантов и студентов старших курсов вузов по направлениям подготовки «Сварка и родственные процессы», «Контроль качества и диагностика» для углубленного изучения вопросов выявляемости дефектов методами ультразвуковой дефектоскопии.
Смотри также о книге.
О книге
| Параметр | Значение |
|---|---|
| ISBN | 978-5-7038-6444-9 |
| Автор(ы) | Леонид Могильнер |
| Издатель | МГТУ им. Н.Э. Баумана |
| Кол-во страниц | 172 |
| Раздел | Физические науки |
| Год издания | 2025 |
| Количество страниц | 172 |
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Формат | 172x245мм |
| Вес | 0.39кг |