Основы математической метрологии; Политехника, 2005

Издатель: Политехника
ISBN: 5-7325-0793-0
EAN: 5-7325-0793-0
Книги: Физика и математика
ID:1732528

Где купить

Рейтинг:

(0/5)

Отзывы (0) Оставить отзыв

Описание Характеристики Цены Отзывы (0)

Где купить

Последняя известная цена от 327 р. до 679 р. в 3 магазинах

В данный момент у нас нет информации о наличии данного товара в магазинах.
Вы можете поискать его на других площадках:

Магазин	Цена	Наличие
Яндекс.Маркет 5/5 ООО "ЯНДЕКС" ИНН: 7736207543	✔ Промокоды на скидку

Avito 5/5 ООО КЕХ еКоммерц ИНН: 7710668349	Avito доставка позволит получить любой товар, не выходя из дома

История цены
Магазин	Последняя известная цена	Обновлено
Лабиринт	538 р.	21.11.2024
МАЙШОП	327 р.	23.06.2024

Описание

В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Представлено базовое алгоритмическое обеспечение метрологического анализа типовых процедур измерений.

Книга предназначена для метрологов и специалистов-измерителей, ориентирующихся на использование современных информационных технологий, преподавателей, аспирантов и студентов вузов соответствующих специальностей.

Смотри также о книге.

О книге

Параметр	Значение
Автор(ы)	Цветков Эрик Иванович
Издатель	Политехника
Год издания	2005
Страниц	510
Переплёт	твердый
ISBN	5-7325-0793-0
Размеры	21,50 см × 14,50 см × 2,50 см
Формат	60х90/16 шитая
Тематика	Математика
Тираж	1000
Обложка	твердый переплёт
Язык издания	rus
Кол-во страниц	510