Conducting and Using Evaluative Site Visits; John Wiley & Sons Limited

2365 р.

  • Издатель: John Wiley & Sons Limited
  • ISBN: 9781119494980
  • Книги: Политика, политология
  • ID:6514462
Где купить

Где купить (1)

Цена от 2365 р. до 2365 р. в 1 магазинах

МагазинЦенаНаличие
2365 р.
2956 р. -20% Электронная книга Кэшбэк до 14%

29.06.2024
Один из первых книжных интернет-магазинов, работающий с 2002 года
Заказ от 800 рублей мы привезем бесплатно!
Яндекс.Маркет
5/5
Промокоды на скидку
Avito доставка позволит получить любой товар, не выходя из дома

Предложения банков


Компания Предложение
Альфа-Банк

Беспроцентный период - до 100 дней. Выпуск кредитной карты - бесплатно

Халва

Рассрочка 0% до 36 мес. Лимит кредитования - до 500 000 рублей. Снятие заемных средств в рассрочку на 3 мес. Кэшбэк до 10%

Описание

Because site visits are used so extensively in evaluation and because the consequences of poorly planned and conducted site visits are dire for so many evaluation constituents, it is essential to get it right. This issue discusses and defines site visits and what it means to get it right in planning, conducting, and using site visits in program evaluation. Learn about: strategies for a wide range of evaluation constituents who commission, plan, conduct, and use site visits implications of rigor, ethics, and quality of site visits challenges and possible solutions to problems linked to the high cost of commissioning site visits the potentially devastating consequences of poorly designed or implemented site visits. This is the 156th issue in the New Directions for Evaluation series from Jossey-Bass. It is an official publication of the American Evaluation Association.

Смотри также о книге.

О книге


ПараметрЗначение
Автор(ы)
ИздательJohn Wiley & Sons Limited
ISBN978-1-119-49498-0


Отзывы (0)


Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Политология - издательство "John Wiley & Sons Limited"

Категория 1892 р. - 2838 р.

Книги: Политология

Категория 1892 р. - 2838 р.

закладки (0) сравнение (0)

26 ms