Сравнить цены на книгу: Основы метрологии стандартизации и сертификации; Инфра-М, 2013

  • Издатель: ИНФРА-М
  • ISBN: 9785819903384
  • Книги: Метрология
  • ID:1859267
Где купить

Где купить

Последняя известная цена от 1551 р. до 1551 р. в 3 магазинах

В данный момент у нас нет информации о наличии данного товара в магазинах.
Вы можете поискать его на других площадках:

МагазинЦенаНаличие
Яндекс.Маркет
5/5
Промокоды на скидку
Avito доставка позволит получить любой товар, не выходя из дома
Промокоды на скидку

История цены

МагазинПоследняя известная ценаОбновлено
book24
1551 р.
27.09.2025
Читай-город
1551 р.
27.09.2025
Буквоед
1551 р.
27.09.2025

Описание

Предназначено для студентов средних специальных учебных заведений всех специальностей, изучающих дисциплину "Метрология, стандартизация, сертификация". Может быть полезно студентам и преподавателям вузов, руководителям и специалистам предприятий и организаций, работающим в области стандартизации и управления качеством.

.В учебном пособии охватываются новейшие аспекты развития стандартизации, метрологии и сертификации в области информационных технологий. Приводятся особенности стандартизации и сертификации в России, затрагиваются вопросы деятельности отечественных и зарубежных организаций по стандартизации, единства измерений, организации метрологического обеспечения производства, разработки и применения стандартов.

.

.

Смотри также о книге.

О книге


ПараметрЗначение
Автор(ы)
Переплет220.00mm x 150.00mm x 13.00mm
ИздательИнфра-М
Год издания2013
Возрастные ограничения12
Кол-во страниц256
СерияПрофессиональное образование
РазделОбщетехнические дисциплины
ISBN978-5-8199-0338-4
Количество страниц256
Формат220.00mm x 150.00mm x 13.00mm
Вес0.36кг
Страниц256
Переплёттвердый
Размеры21,50 см × 14,50 см × 1,70 см
ТематикаМетрология
Тираж2000


Отзывы (0)




Зарегистрируйтесь и получайте бонусы за покупки!


Книги: Технические науки - издательство "ИНФРА-М"

Категория 1240 р. - 1861 р.

Книги: Технические науки

Категория 1240 р. - 1861 р.

закладки (0) сравнение (0)

19 ms